日本電測(cè)densoku便攜式薄膜膜厚計(jì)QNIx系列介紹
日本電測(cè)densoku便攜式薄膜膜厚計(jì)QNIx系列介紹
便攜式膜厚儀，可輕松提高麻煩的膜厚測(cè)量的生產(chǎn)效率
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計(jì)。
無線測(cè)量無需電纜。它有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C，也有助于防止測(cè)量過程中掉落事故。
QNIx系列功能
無需進(jìn)行膜校準(zhǔn)即可進(jìn)行精確的膜厚度測(cè)量
出廠時(shí)輸入了16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進(jìn)行精確的薄膜厚度測(cè)量。
膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)
在傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器中，測(cè)量?jī)x器通過電纜連接到個(gè)人計(jì)算機(jī)以傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測(cè)量數(shù)據(jù)。
超輕便的無線測(cè)量?jī)x
探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)被無線發(fā)送到主機(jī)。它降低了被電纜卡住，像傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣妨礙或?qū)е碌涫鹿实娘L(fēng)險(xiǎn)。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。
一種不易折斷且不會(huì)在測(cè)量對(duì)象上留下痕跡的探針。
QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍，耐用性提高了30％。即使發(fā)生極少數(shù)的故障，拆卸和維修也很容易，因此縮短了維修時(shí)間。此外，它配備有紅寶石芯片，可以安全地進(jìn)行測(cè)量，而不會(huì)損壞要測(cè)量的對(duì)象（樣品）。
QNIx系列比較規(guī)格表
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統(tǒng) | QNIx方便 | |
| 可測(cè)量的電影 | [F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導(dǎo)電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度 | ||
| 材料識(shí)別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別和交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別和交換 | 用戶的轉(zhuǎn)換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別和交換 | 鐵/有色，自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換 |
| 測(cè)量原理 | [F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流 | ||||
| 測(cè)量范圍 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0至3,000μm | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0至5,000μm | 0?500微米 |
| zui高 分辨率 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點(diǎn)校正 用戶校準(zhǔn)：1 [M] 100 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 沒有校準(zhǔn)功能 | 沒有校準(zhǔn)功能 |
| 準(zhǔn)確度 | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％） | ±（2μm+ 3％） | ±（1微米+ 3％） | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） | ±（10微米+ 5％） |
| 測(cè)量速度 | 1,500ms （大約40次/分鐘） [T] 920ms （大約65次/分鐘） [R] 1,600ms （大約37次/分鐘） | 600ms （約70次/分鐘） | 1,300ms （約46次/分鐘） | 1,500ms （約40次/分鐘） | 600ms （約100次/分鐘） |
便攜式薄膜測(cè)厚儀的型號(hào)代碼指南
[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測(cè)量
[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電膜厚度測(cè)量
[FN]用一根探針測(cè)量黑色金屬和有色金屬材料上的膜厚
[T]微型探針
[M]測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C
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