對硅片能量轉(zhuǎn)換效率相關(guān)要素進(jìn)行綜合性測量

日本psts太陽電池用硅片有效載流子測量裝置"VWECER-100-S"

 與傳統(tǒng)類型的常規(guī)產(chǎn)品不同，該產(chǎn)品具有
小型化的臺式機(jī)尺寸，可以一次測量晶圓。

 太陽電池用硅片有效載流子測量裝置"VWECER-100-S"使用東北大學(xué)金屬材料研究所開發(fā)的新技術(shù)“HS-CMR法”，測量硅片的質(zhì)量。由于可以在硅片階段就能準(zhǔn)確判定質(zhì)量、進(jìn)行識別，就可以避免將質(zhì)量低的硅片投入到電池生產(chǎn)線中。由此，就減少了電池生產(chǎn)工序的浪費(fèi)，使成品率的提高成為可能。

 VWECER-100-S可以對硅片中與能量轉(zhuǎn)換效率相關(guān)的所有要素（電子、空穴、缺陷、雜質(zhì)等）進(jìn)行綜合性測量，能用1個(gè)參數(shù)準(zhǔn)確測量影響發(fā)電的有效載流子數(shù)。VWECER-100-S的測量結(jié)果直接關(guān)系到將硅片制造成太陽電池時(shí)的轉(zhuǎn)換效率。可以把由目視無法確認(rèn)的硅片太陽電池的性能作為“潛在轉(zhuǎn)換效率”測量。由于可以進(jìn)行識別，不將潛在轉(zhuǎn)換效率低的硅片用在電池生產(chǎn)線上，可以大幅度減少生產(chǎn)成本。另外，通過明確了以前無法準(zhǔn)確測量的硅片內(nèi)有效載流子數(shù)，也對太陽電池中重要的技術(shù)之一的“PN結(jié)技術(shù)”的改善有所幫助。