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光學非接觸式小徑內(nèi)徑測量儀IDM的運用案例分析
光學非接觸式小徑內(nèi)徑測量儀IDM的運用案例分析
用途
小直徑內(nèi)徑測量儀IDM是一種光學非接觸式測量儀，可以處理各種測量。
-除了測量環(huán)的內(nèi)徑外，還可應用于孔距、方度、錐度、方孔和狹縫。此外，由于可以測量外徑和外寬，因此也可以測量同軸度。
- 可用于客戶擁有的母帶測量儀的內(nèi)部校準。
特征
- 可以從最小 φ0.1 mm 到最大 Φ100 mm 進行測量。
? 分辨率 0.01 μm（選項）
?.非接觸式測量不會損壞工作。
- 易于對齊，無需測量技能。
-配備溫度補償系統(tǒng)，自動轉(zhuǎn)換為20°C時的測量值。
案例分析
主要測量實例：
環(huán)規(guī)、剪刀規(guī)、軸承、模具、光纖連接器、注塑件等。
測量示例
IDM 可以測量任何高度和厚度位置的內(nèi)徑。
測量應用示例
不僅可以測量環(huán)規(guī)，還可以測量孔距、垂直度和錐度。也可適用于方孔和狹縫，
外徑和外寬的測量方法相同，因此可用于內(nèi)外徑同軸度等多種用途。
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