日本yamabun桌面離線型測(cè)厚儀介紹

日本yamabun桌面離線型測(cè)厚儀介紹

離線式測(cè)厚儀是臺(tái)式緊湊型測(cè)厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測(cè)量。由于測(cè)量是在自動(dòng)運(yùn)輸?shù)耐瑫r(shí)進(jìn)行的，因此任何人都可以輕松快速地進(jìn)行測(cè)量，并且不受測(cè)量者技能的影響是一大特點(diǎn)。
常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用。此外，由于測(cè)量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經(jīng)常用于充氣膜的制造現(xiàn)場(chǎng)。

型號(hào)：TOF-4R05

測(cè)量方法

測(cè)量對(duì)象：薄膜、片材

測(cè)量厚度：0.03 至 3 毫米

型號(hào)：TOF-5R01

測(cè)量方法

測(cè)量對(duì)象：膠片/膠卷

測(cè)量厚度：0.02-0.2毫米

型號(hào)：TOF-6R001

測(cè)量方法

測(cè)量對(duì)象：薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）

測(cè)量厚度：5-100微米

型號(hào)：TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號(hào)

測(cè)量方法

測(cè)量對(duì)象：薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜

測(cè)量厚度：~ 500 微米

型號(hào)：TOF-S

測(cè)量方法

測(cè)量對(duì)象：電子、光學(xué)用透明平滑膜、多層膜

測(cè)量厚度：1 至 50 μm（用于薄材料）
10 至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型號(hào)：TOF-M

測(cè)量方法

測(cè)量對(duì)象：鋼板或鋁板等金屬板

測(cè)量厚度：0.1-0.5毫米