densoku渦流膜厚儀的原理分析

幾乎可以測量金屬上的所有薄膜（鋁、鋅、鉻等上的氧化膜，鐵上的電鍍和涂漆）
或非金屬上的幾乎所有金屬薄膜（塑料上的電鍍等）。

非常適合 檢查，因為它可以在短時間內(nèi)（1 秒內(nèi)）進行非破壞性測量。

也可以測量曲面、球面、管道內(nèi)表面（φ12.7 mm或更大）。

測量樹脂上的鋁薄膜。示例：應(yīng)用于汽車前照燈反射器的鋁沉積（從 100 納米起）的質(zhì)量控制。

鋁上氧化鋁膜厚度測量

鐵上鍍鋅的膜厚測量（與熒光X射線膜厚儀結(jié)合使用）

陶瓷鍍鎳的厚度測量