半導(dǎo)體晶片及液晶基板觀察用的 光源設(shè)備

日本yamada山田光學(xué) 高輝度鹵素光源裝置 YP-150I
是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。這款設(shè)備通常北稱為 表面檢查燈 從廣義上來說是檢查表面缺陷瑕疵等情況燈具的都是表面檢查燈。有的因為被用于不同材質(zhì)表面檢查不同的情況,而被冠以不同命名。

“YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測

　　最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導(dǎo)體加工過程中勞動強(qiáng)度的一種。晶圓和液晶板

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　　樣品表面的照度可超過 400,000 Lx。

　　另外，由于采用鹵素?zé)糇鳛楣庠?，色溫高?/p>

　　光照不均勻的情況很少，光照***穩(wěn)定銳利。

　　姊妹機(jī)“YP-250I"也可用于 8 英寸。