日本YAMADA山田 高輝度半導體檢查燈

日本YAMADA山田 高輝度半導體檢查燈

這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux（30Φ）或更高的照明，可以觀察到細微的劃痕。

-日本YAMADA山田半導體檢查燈產品特點：

1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。

2、光源采用鹵素燈，色溫高，照度不均小，光線極其穩定銳利。

3、采用冷鏡，熱量的影響極大地降低到傳統鋁鏡的1/3。

4、兩級切換機構，一鍵實現高照度觀察和低照度觀察。

YP-150I 照度范圍：30mmφ

　基本信息高強度鹵素光源裝置

　　超精密平面檢測的理想選擇！通過驚人的照明，可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。

　　“YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測

　　最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板

　樣品表面的照度可超過 400,000 Lx。

　　另外，由于采用鹵素燈作為光源，色溫高，

　　光照不均勻的情況很少，光照***穩定銳利。

　　姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。

　　[特點]

　　■ 光源采用鹵素燈

　　■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高

　　■ 熱量的影響降低到傳統鋁鏡的1/3

　　■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換

　　請用于超精密平面檢測！