桌上型振子式半導體封裝設計用沖擊試驗裝置
桌上型振子式半導體封裝設計用沖擊試驗裝置
| 參數 | 規格 |
|---|---|
| 沖擊力范圍 | 0.1-10 N(可調) |
| 沖擊次數 | 1-9999 次(可設定) |
| 沖擊角度 | ±30°(標準) |
| 振子質量 | 0.5 kg |
| 振子擺動速度 | 0.1-1.0 m/s(可調) |
| 測試平臺尺寸 | 100 mm × 100 mm |
| 電源 | AC 100-240 V,50/60 Hz |
| 尺寸 | 400 mm × 300 mm × 500 mm |
| 重量 | 約 15 kg |
| 參數 | 規格 |
|---|---|
| 沖擊力范圍 | 0.1-10 N(可調) |
| 沖擊次數 | 1-9999 次(可設定) |
| 沖擊角度 | ±30°(標準) |
| 振子質量 | 0.5 kg |
| 振子擺動速度 | 0.1-1.0 m/s(可調) |
| 測試平臺尺寸 | 100 mm × 100 mm |
| 電源 | AC 100-240 V,50/60 Hz |
| 尺寸 | 400 mm × 300 mm × 500 mm |
| 重量 | 約 15 kg |
是一款電子部件用桌上型振子式沖擊試驗裝置,專為小型電子元件、連接器、半導體封裝等設計,用于測試其抗沖擊性能。該設備通過振子擺動產生沖擊力,模擬實際使用中的沖擊環境是一款電子部件用桌上型振子式沖擊試驗裝置,專為小型電子元件、連接器、半導體封裝等設計,用于測試其抗沖擊性能。該設備通過振子擺動產生沖擊力,模擬實際使用中的沖擊環境是一款電子部件用桌上型振子式沖擊試驗裝置,專為小型電子元件、連接器、半導體封裝等設計,用于測試其抗沖擊性能。該設備通過振子擺動產生沖擊力,模擬實際使用中的沖擊環境是一款電子部件用桌上型振子式沖擊試驗裝置,專為小型電子元件、連接器、半導體封裝等設計,用于測試其抗沖擊性能。該設備通過振子擺動產生沖擊力,模擬實際使用中的沖擊環境
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